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X 射线衍射（XRD）是研究晶体物质和某些非晶态物质微观结构的有效方法，也是科研人常用的材料表征方法之一。通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。用于确定晶体结构。其中晶体结构导致入射X射线束衍射到许多特定方向。通过测量这些衍射光束的角度和强度，晶体学家可以产生晶体内电子密度的三维图像。根据该电子密度，可以确定晶体中原子的平均位置，以及它们的化学键和各种其他信息。
XRD 应用广泛，除一般物相分析外，还可以进行单晶分析、结构分析、测定微晶尺寸、宏观及微观应力等。
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